artigo "Limited Yield Estimation for Visual Defect Sources" (IEEE Trans. on Semiconductor Manuf., 1997, p. 17-23) relatou que, em um estudo do processo de inspeção de um wafer específico, 356 dados foram examinados por uma inspeção e 201 deles foram aprovados. Assumindo um processo estável, calcule o intervalo de confiança (bicaudal) de para a proporção de todos os dados que foram aprovados pela inspeção.
Passo 1
Calculamos um intervalo de confiança de 95% para a proporção de todas as matrizes que passam na sonda: