O artigo "Limited Yield Estimation for Visual Defect Sources" (IEEE Trans. on Semiconductor Manuf., 1997, p. 17-23) relatou que, em um estudo do processo de inspeção de um wafer específico, 356 dados foram examinados por uma inspeção e 201 deles foram aprovados. Assumindo um processo estável, calcule o intervalo de confiança (bicaudal) de 95 % para a proporção de todos os dados que foram aprovados pela inspeção.

Passo 1

p ^ = 201 356 = . 564 6

Calculamos um intervalo de confiança de 95% para a proporção de todas as matrizes que passam na sonda:

. 5646 + ( 1.96 ) 2 2 ( 356 ) ± 1.96 ( . 5646 ) ( . 4354 ) 356 + ( 1.96 ) 2 4 ( 356 ) 2 1 + ( 1.96 ) 2 356 = . 5700 ± . 0518 1.01079 = ( . 513 , . 615 )

Resposta

( . 513 , . 615 )

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