Enunciado
Probabilidade e Estatística - Montgomery - Estatística Aplicada e Probabilidade para Engenheiros- Ed: 4º - Capítulo 16.Exercícios - Ex. 31
Em um processo de fabricação de semicondutores por deposição química de vapor (DQV), a espessura do metal foi medida em 30 pastilhas obtidas ao longo de aproximadamente duas semanas. Os dados são mostrados na seguinte tabela.
a)Usando todos os dados, calcule os limites tentativas de controle para os gráficos das observações individuais e da amplitude móvel. Construa o gráfico e plote os dados. Determine se o processo está sob controle estatístico. Se não, considere que causas atribuídas possam ser encontradas para eliminar essas amostras e reveja os limites de controle.
b)Estime a média e o desvio-padrão do processo quando ele estiver sob controle.
Passo 1
Hey, jovem, tudo bem contigo? Espero que sim 😊 Bora pra mais uma questãozinha de estatística? Vamo que vamo! Então, para o gráfico a partir dos dados, temos:
Para a média e o desvio padrão, aplicamos:
Resposta
Ei, a resposta está no passo a passo :)