Um experimento para investigar o tempo de sobrevivência, em horas, de um componente eletrônico, consiste em colocar as partes em uma célula de teste e corrê-las durante 100 horas sob condições de temperatura elevada. (Isso é chamado de teste “acelerado” de vida.) Oito componentes foram testados com os seguintes tempos resultantes de falha:
75,63,100*,36,51,45,80 e 90
A observação indica que a unidade ainda funcionou no tempo de 100 horas. Há alguma medida significante de localização que possa ser calculada para esses dados? Qual é o seu valor numérico?
Passo 1
Vamos tratar como o valor 100.
A medida da localização é a média da amostra.
O tempo de sobrevivência médio de um componente eletrônico, é então:
Resposta
67.5