Um experimento para investigar o tempo de sobrevivência, em horas, de um componente eletrônico, consiste em colocar as partes em uma célula de teste e corrê-las durante 100 horas sob condições de temperatura elevada. (Isso é chamado de teste “acelerado” de vida.) Oito componentes foram testados com os seguintes tempos resultantes de falha:

75,63,100*,36,51,45,80 e 90

A observação 10 0 + indica que a unidade ainda funcionou no tempo de 100 horas. Há alguma medida significante de localização que possa ser calculada para esses dados? Qual é o seu valor numérico?

Passo 1

Vamos tratar 10 0 + como o valor 100.

A medida da localização é a média da amostra.

O tempo de sobrevivência médio de um componente eletrônico, x _ é então:

x _ = 75 + 63 + 100 + 36 + 51 + 45 + 80 + 90 8 = 67.5

Resposta

67.5

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