Enunciado
Probabilidade e Estatística - Montgomery - Estatística Aplicada e Probabilidade para Engenheiros- Ed: 4º - Capítulo 8.Exercícios - Ex. 47
Está-se estudando a fração de circuitos integrados defeituosos produzidos em um processo de fotolitografia. Una amostra alcatoria de 300 circuitos e testada, revelando os defeitos.
(a) Calcule um IC bilateral de 95% para a fracio de circuitos defcituosos produzidos por essa ferramenta particular.
(b) Calcule um limite superior de confianca de 95% para a fracao de circuitos defeituosos.
Passo 1
Vamos lá pessoal, se liga aqui como que resolve essa questão:
Se é a proporção de observações em uma amostra aleatória de tamanho n que pertence a uma classe de interesse, um intervalo de confiança aproximada de na proporção p da população que pertence a esta classe é
onde é o ponto percentual superior da distribuição normal padrão.
Este procedimento depende da adequação da aproximação normal ao binomial. Para ser razoavelmente conservador, isso requer que np e sejam maiores ou iguais a 5. Em situações em que esta aproximação é inadequada, principalmente nos casos em que n é pequeno, outros métodos devem ser usados.
Uma amostra aleatória de n = 300 circuitos é testada, revelando defeituosos. A estimativa pontual da proporção da população p é
e
Passo 2
Letra a:
Para intervalo de confiança bilateral de 95%:
E
Portanto, a partir das equações anteriores, um IC bilateral de 95% na fração de circuitos defeituosos produzidos por esta ferramenta particular é
que simplifica para
Os limites de confiança superiores aproximados de são
Passo 3
Letra b:
Para limite de confiança superior de 95%:
e
Portanto, da equação anterior, o limite de confiança superior de 1,95% na fração de circuitos defeituosos é:
que simplifica para